karakteristik x-ray

Document Sample
karakteristik x-ray Powered By Docstoc
					                                         BAB I

                                   PENDAHULUAN

1.1 Latar Belakang

   Sejarah mengenai difraksi sinar-x telah berjalan hampir satu abad ketika tulisan ini
disusun. Tahun 1912 adalah awal dari studi intensif mengenai difraksi sinar-x. Dimulai
dari pertanyaan M. van Laue kepada salah seorang kandidat doktor P.P. Ewald yang
dibimbing A.Sommerfeld, W. Friedrich (asisten riset Sommerfeld) menawarkan
dilakukannya eksperimen mengenai difraksi sinar X. Pada saat itu eksperimen mengenai
hamburan sinar-x sudah dilakukan oleh Barkla Laue mengawali pekerjaannya dengan
menuliskan hasil pemikiran teoretiknya dengan mengacu pada hasil eksperimen Barkla.
Laue berargumentasi, ketika sinar-x melewati sebuah kristal atom-atom pada kristal
bertindak sebagai sumber-sumber gelombang sekunder, layaknya garis-garis pada geritan
optic (optical grating). Efek-efek difraksi bisa jadi menjadi lebih rumit karena atom-atom
tersebut membentuk pola tiga dimensi. Eksperimen difraksi sinar-x yang pertama
dilakukan oleh Herren Friedrich dan Knipping menggunakan Kristal tembaga sulfat dan
berhasil memberikan hasil pola difraksi pertama yang kemudian menjadi induk
perkembangan difraksi sinar-x selanjutnya, difraksi sinar-x merupakan proses hamburan
sinar-x oleh bahan kristal.

1.2 Tujuan

   1. Menentukan intensitas sinar-X yang dipancarkan oleh anoda tembaga pada
       tegangan anoda maksimum dan dicatat sebagai fungsi dari sudut Bragg
       menggunakan monokristal LiF sebagai analyzer.

   2. Menentukan intensitas sinar X yang dipancarkan oleh anoda tembaga pada
       tegangan anoda maksimum dan dicatat sebagai fungsi dari sudut Bragg
       menggunakan monokristal KBr sebagai analyzer.

   3. Menentukan nilai energi dari karakteristik tembaga yang akan dihitung dan
       dibandingkan dengan perbedaan energi dari istilah tembaga energi.

1.3 Alat dan Bahan

    X-ray basic unit, 35 kV                       09.058,99      1
    Goniometer for X-ray unit, 35 kV               09.058,10      1
    Plug-in module with Cu X-ray tube              09.058,50      1
    Counter tube, type B                           09.005,00      1
    Lithium fluoride crystal, mounted              09.056,05      1
    Potassium bromide crystal, mounted             09.056,01      1
       Recording equipment:
    XYt recorder                                   11.416,97      1
    Connecting cable l = 100 cm, merah             07.363,01      2
    Connecting cablel l = 100 cm, biru             07.363,04      2
       or
    softwere X-ray unit, 35 kV                     14.407,61      1
    RS232 data cable                               14.602,00      1
    PC, Windows ® 95 or higher
1.4 Prinsip
   Spektrum sinar-X dari sebuah anoda tembaga dianalisis dengan cara monocrystal yang
berbeda dan hasil diplot dalam bentuk grafik. Energi dari garis karakteristik ini kemudian
dapat ditentukan dari posisi sudut glancing untuk difraksi yang berbeda.
1.5 Langkah Percobaan
   1. Diatur percobaan seperti yang ditunjukan pada gambar (1.1)
   2. Dipasang tabung diafragma dioutlet tabung X-ray (1 mm diameter pipa dengan
       menggunakan kristal LiF dan 2 mm diameter tabung menggunakan kristal KBr)
       dengan unit X-ray dimatikan.
   3. Dihubungkan ganiometer dan tabung counter kesoket yang sesuai dengan pelat
       dasar area eksperimen.
   4. Diatur blok ganiometer dengan mount penganalisa kristal keposisi tengah dan
       tabung counter ke right stop.
   5. Diposisikan pengaturan yang direkomendasikan pada spektrum perekam:
       -    Auto and coupling
       -    Gate time 2 s ; angle step width 0.10
       -    Scanning range 30 – 550 using the LiF monocrystal and 30-750 using the KBr
            monocrystal.
       -    Anode voltage UA= 35 keV anode current IA = 1 mA
   6. Ketika spektra ini harus dicatat dengan perekam XY, terhubung sumbu Y untuk
       output analog (Imp/s) dari X-ray unit dasardan begitu pula X input ke outlet
   analog untuk posisi sudut kristal (dipilih sinyal analog untuk sudut kristal dengan
   tombol pilihan untuk output).
7. Digunakan PC untuk merekam spektra maka instruksi singkat untuk memudahkan
   pengoperasian:
   -   Diaktifkan unit X-ray
   -   Dibuka pintu unit (diperiksa posisi ganiometer)
   -   Dihubungkan unit X-ray melalui kabel RS232 pada PC COM 1 COM 2 atau
       USB port (untuk computer USB port menggunakan USB RS232 converter
       14,602,10)
   -   Dijalankan “measure” program dan dipilih “Gauge” X-ray device
   -   Dipilih parameter yang ditunjukan pada gambar 1.2 a dan tekan tombol
       continue (dipilih kristal menggunakan KBr atau LiF)
   -   Ditutup pintu unit X-ray
   -   Dimulai pengukuran (dilihat gambar 1.2 b)




               Gambar 1.1: Eksperimental set-up untuk analisis sinar-x
Gambar 1.2 a Parameter pengukuran untuk perangkat lunak perekaman catatan

Gambar 1.2 b Graphical user interface dari “device X-ray softwere
                                          BAB II

                                     DASAR TEORI

2.1 Sinar X

       Sinar X atau sinar Rontgen ditemukan oleh W.C. Rontgen pada tahun 1985, yang
tak lain adalah gelombang elektromagnetik yang panjang gelombangnya beberapa

Angstrom saja (1Å =             ), yang pada hakikatnya diakibatkan oleh transisi tingkat

tenaga yang bersangkutan dengan turunya bilangan kuantum n pada atom-atom berat
(Soedojo, 2001: 226).

       Rontgen mendapatkan bahwa radiasi yang kemampuan tembusnya besar sifatnya
belum diketahui, ditimbulkan jika elektron cepat menumbuk materi. Sinar X ini
didapaatkan menjalar menurut garis lurus walaupun melewati medan listrik dan magnetik
dapat menembus bahan, dengan mudah menyebabkan bahan fosforesen berkilau dan
menyebabkan perubahan pelat fotografik. Bertambah cepat elektron semula, bertambah
hebat kemampuan tembus sinar X dan bertambah banyak jumlah elektron, bertambah
besar pula intensitas berkas sinar X (Beiser, 1987: 58).

       Belum lama setelah penemuan itu orang mulai menduga bahwa sinar X merupakan
gelombang elekromagnetik, bukanlah teori elektromagnetik meramalkan bahwa muatan
listrik yang dipercepat akan meradiasi gelombang elektromagnetik, dan elektron yang
bergerak cepat tiba- tiba dihentikan jelas mengalami suatu percepatan. Radiasi yang
ditimbulkan keadaan serupa itu diberi nama bahasa Jerman Bremsstrahlung (“Radiasi
pengereman”).




                              2.1 Sebuah tabung sinar X
       Gambar 2.1 diatas merupakan diagram tabung sinar X, sebuah katode yang
dipanasi oleh filamen berdekatan yang dilalui arus listrik menyediakan elektron terus
menerus dengan emisi termionik. Perbedaan potensial yang tinggi V dipertahankan antara
katoda dengan target logam mempercepat elektron kearah target tersebut. Permukaan
target membentuk sudut relatif terhadap bekas elektron, dan sinar X yang keluar dari
target melewati bagian pinggir tabung, tabung tersebut dihampakan supaya elektron dapat
sampai ke target tanpa halangan (Beiser, 1987: 51).

2.2 Difraksi Sinar X

       Sinar-x adalah radiasi elektromagnetik dengan panjang gelombang yang ordenya
sebesar 0,1 nm (atau 1Å). Nilai ini harus dibandingkan dengan 550 nm (atau 5500 Å) untuk

pusat spektrum tampak. Untuk panjang gelombang yang begitu kecil maka kisi difraksi
optik standar seperti yang biasanya digunakan, tidak dapat digunakan disini untuk λ= 0,10
nm dan d= 3000 nm (Halliday, 1984: 777).

       Sebuah kristal terdiri dari deretan atom yang teratur letaknya, masing-masing atom
dapat menghambur gelombng elektromagnetik yang datang padanya. Mekanisme
hamburan dapat dijelaskan secara langsung. Sebuah atom dalam medan listrik tetap
menjadi terpolarisasi karena elektronya yang bermuatan negatif dan intinya bermuatan
positif mengalami gaya dalam arah yang berlawanan. Gaya ini relatif kecil dibandingkan
dengan gaya yang mengikat atom, sehingga yang terlihat ialah distribusi muatan yang
terdistorsi yang setara dengan dwikutub listrik dalam medan listrik yan bolak-balik dari
suatu medan elektromagnetik berfrekuensi V, polarisasinya (pengutubanya) berubah
bolak-balik dengan frekuensi yang sama V (Beiser, 1987: 65).

       Dalam istilah gelombang, gelombang sekunder mempunyai permukaan gelombang
bola sebagai ganti dari permukaan gelombang datar dari gelombang datang, jadi proses
hamburan berpautan dengan atom yang menyerap gelombang datang dan memancarkan
gelombang bola yang berfrekuensi sama (Beiser, 1987: 66).

2.3 Spektrum Sinar X

         Ada berbagai cara untuk mengukur panjang gelombang sinar-x salah satu yang
terbaik adalah dengan menggunakan pemantulan sinar-x oleh suatu kisi kristal zat padat.
Apabila konfigurasi atom-atom diketahui dan jarak antara atom-atom tersebut diketahui
maka kisi kristal tersebut dapat dipergunakan sebagai analisator gelombang sinar-x
(Wiyatmo, 2003: 63).

        K= eVo                                                                (1)

Dengan berpijak pada teori kuantum einstein bahwa sinar-x merupakan suatu gumpalan
energi elektromagnetik dengan energi E yang memenuhi (Wiyatmo, 2003: 63)

        E= hn= hc/λ                                                           (2)

Andaikan bahwa ada kemungkinan melalui suatu mekanisme tertentu seluruh energi
kinetik elektron pada saat menumbuk katoda semuanya dan tanpa kecuali menjadi suatu
foton sinar –x dalam hal ini maka (Wiyatmo, 2003: 63)

        K= E atau hc/λ = eV0                                                  (3)

Sehingga diperoleh:


        λ=                                                                    (4)

Apabila panjang gelombang minimum λmin dinyatakan dalam meter dan V0 dalam Volt
maka:


         λmin=                                                                (5)

Apabila λmin dinyatakan dalam Angstrom dan V0 dalam kilovolt maka (Wiyatmo, 2003:
64).


        λmin =                                                                (6)



2.4 Interferensi Sinar X yang Dihambur

        Berkas sinar-x ekawarna (monokhromatik) yang jatuh pada sebuah kristal akan
dihamburkan kesegala arah, tetapikarena keteraturan letak-letak atom pada arah tertentu
gelombang hambur itu akan berinterferensi destruktif. Atom-atom dalam kristal dapat
dipandang sebagai unsur yang membentuk keluarga bidang datar. Analisis ini diusulkan
oleh W.L Bragg dalam tahun 1913 untuk menghormatinya bidang-bidang itu dinamai
bidang Bragg (Beiser, 1987: 65).

       Syarat yang diperlukan supaya radiasi yang dihamburkan atom kristal membentuk
interferensi konstruktif dapat diperoleh dari diagram seperti dalam gambar (2.2). Suatu
berkas sinar-x yang panjang gelombangnya λ jatuh pada kristal dengan sudut θ terhadap
permukaan keluarga bidang Bragg yang jarak antaranya d. Seberkas sinat mengenai atom
A pada bidang pertama dan atom B pada bidang berikutnya dan masing-masing atom
menghambur. Sebagian berkas tersebut dalam arah rambang. Interferensi konstruktif hanya
terjadi antara sinar terhambur yang sejajar dan beda jarak jalanya tepat λ, 2λ, 3λ dan
sebagainya. Jadi beda jarak jalan harus nλ, dengan n menyatakan bilangan bulat (Beiser,
1987: 66).




                        Gambar 2.2 Hamburan sinar x dari kristal kubus

2.5 Hukum Bragg

       Analisa tentang dfraksi sinar X oleh kristal demikian dikemukakan oleh W.L Bragg
pada tahun 1912, dengan memandang difraksi itu sebagai interferensi antara sinar-sinar
yang terpantul dibidang-bidang sejajar yang melewati deretan atom-atom kristal yang lalu
dinamakan bidang-bidang Bragg (Soedojo, 2001: 233).

       Seperti yang dalam optika cahaya nampak, syarat interferensi yang saling
menguatkan diberikan oleh persamaan (Soedojo, 2001: 234).

       nλ = 2 d sin θ

yng dikenal sebagai rumus Bragg.
2.6 Absorpsi Sinar X

       Sifat sinar X yang paling dikenal orang ialah bahwa sinar X ini dapat menembus
benda yang tak tembus cahaya. Sifat sinar X manakah yang memungkinkan sinar ini
mampu menembus berbagai benda? Mungkinkah cahaya tampak dengan intensitas yang
tinggi seperti sinar laser dapat menembus bahan? (Sutrisno, 1979: 98).

       Marilah kita teliti apa yang terjadi bila sinar laser gas CO2 daya tinggi difokuskan
pada kertas karton. Laser CO2 mempunyai panjang gelombang sekitar 100.000 Å, jadi

dalam daerah inframerah foton gelombang ini mempunyai energi dibawah 0,5 eV. Foton
dengan frekuensi ini akan diserap bahan karena ada dalam bahan daerah energi getaran
molekul bahan. Seberkas sinar laser CO2 berdaya 1 kwatt dalam 1 detik memancarkan
energi sebesar 1000 j (Sutrisno, 1979: 98).

       Sekarang kita membandingkan apa yang terjadi bila kertas karton kita sinari
dengan sinar X. Foton sinar-x pada radiasi karakteristik k mempunyai energi sekitar 20
keV atau 20.000 eV. Foton dengan energi dalam daerah ini tidak akan mempengaruhi
getaran molekul maupun transisi optik, karena energi transisi ini terdapat dalam daerah eV.
Jadi jauh dibawah energi foton sinar-x berinteraksi dengan atom bahan melalui peristiwa
fotolistrik dan hamburan Compton. Akibat dari peristiwa ini adalah terpentalnya elektron
dari atom yaitu ionisasi atom (Sutrisno, 1979 : 98).
                                        BAB III

                               DATA DAN ANALISIS

3.1 Data Percobaan

       Intensitas sinar X dari tembaga sebagai fungsi glancing angle, KBr monocrystal
sebagai Bragg analyzer

Grafik kristal KBr




n = 1 line k = 120


       line k = 110


n = 2 line k = 26,50


       line k = 23,50


n = 3 line k = 43,50


       line k = 37,50
       Intensitas sinar X dari tembaga sebagai fungsi glancing angle, LiF monocrystal
sebagai Bragg analyzer

Grafik kristal LiF




n = 1 line k = 200


       line k = 180


n = 2 line k = 470


       line k = 410
3.2 Analisis Perhitungan

    Tabel Hasil Perhitungan

                           Ѳ/˚     line   E / keV

KBr Analyzer

      n=1                   12˚    Kα     9.063

                            11˚    Kβ     9.875

      n=2                  26.5˚   Kα     8.446

                           23.5˚   Kβ     9.451

      n=3                  43.5˚   Kα     8.212

                                          9.285
                           37.5˚   Kβ

LiF Analyzer

      n=1                   20˚    Kα     8.999

                            18˚    Kβ     9.961

      n=2                   47˚    Kα     8.417

                            41˚    Kβ     9.383




KBr Monokristal

Diket : h = 6.6256 *        Js

        c = 2.9979 *       m/s

        d = 3.290 *        m

    1. n= 1
      Line Kα

      E = (n*h*c) / (2d sinѲ)
     = (1*6.6256 *          *2.9979 *   ) / (2*3.290 *   sin 12˚)

     = 1.9863*       / 1.3680*

     = 1.4519*       J

     = 9.063 keV

  Line Kβ

  E = (n*h*c) / (2d sinѲ)

     = (1*6.6256 *          *2.9979 *   ) / (2*3.290 *   sin 11˚)

     = 1.9863*       / 1.2555*

     = 1.5821*       J

     = 9.875 keV

2. n = 2

  Line Kα

  E = (n*h*c) / (2d sinѲ)

     = (2*6.6256 *          *2.9979 *   ) / (2*3.290 *   sin 26.5˚)

     = 3.9726*       / 2.9359*

     = 1.3531*       J

     = 8.446 keV

  Line Kβ

  E = (n*h*c) / (2d sinѲ)

     = (2*6.6256 *          *2.9979 *   ) / (2*3.290 *   sin 23.5˚)

     = 3.9726*       / 2.6237*

     = 1.5141*       J
         = 9.451 keV

    3. n = 3

      Line Kα

      E = (n*h*c) / (2d sinѲ)

         = (3*6.6256 *            *2.9979 *   ) / (2*3.290 *   sin 43.5˚)

         = 5.9589*       / 4.5294*

         = 1.3156*       J

         = 8.212 keV


      Line Kβ

       E = (n*h*c) / (2d sinѲ)

         = (3*6.6256 *            *2.9979 *   ) / (2*3.290 *   sin 37.5˚)

         = 5.9589*       / 4.0056*

         = 1.4876*       J

         = 9.285 keV




LiF Monokristal

Diket : h = 6.6256 *         Js

        c = 2.9979 *     m/s

        d = 2.014 *       m

   1. n = 1
      Line Kα

      E = (n*h*c) / (2d sinѲ)
     = (1*6.6256 *           *2.9979 *   ) / (2*2.014 *   sin 20˚)

     = 1.9863*        / 1.3776*

     = 1.4418*        J

     = 8.999 keV

   Line Kβ

   E = (n*h*c) / (2d sinѲ)

     = (1*6.6256 *           *2.9979 *   ) / (2*3.290 *   sin 18˚)

     = 1.9863*        / 1.2447*

     = 1.5948*        J

     = 9.961 keV


2. n = 2

   Line Kα

   E = (n*h*c) / (2d sinѲ)

     = (2*6.6256 *        *2.9979 *      ) / (2*3.290 *   sin 47˚)

     = 3.9726*       / 2.9459*

     = 1.3485*       J

     = 8.417 keV

   Line Kβ

   E = (n*h*c) / (2d sinѲ)

     = (2*6.6256 *           *2.9979 *   ) / (2*2.014 *   sin 41˚)

     = 3.9726*        / 2.6426*

     = 1.5033*        J

     = 9.383 keV
                                         BAB IV

                                    PEMBAHASAN

4.1 Analisis Prosedur

        Percobaan tentang karakteristik sinar-x dari tembaga bertujuan untuk menentukan
intensitas emisi sinar-x dari tembaga pada tegangan dan arus maksimum yang direkam
sebagai fungsi sudut Bragg menggunakan monokristal KBr dan monokristal LiF sebagai
analisator. Selain itu untuk menentukan nilai energi dari garis-garis karakteristik tembaga
yang dihitung dan dibandingkan dengan perbedaaan energi.

        Setiap melakukan percobaan dibutuhkan alat dan bahan. Adapun alat dan bahan
yang digunakan adalah Unit sinar-x berfungsi sebagai tempat kita melakukan percobaan
karakteristik sinar-x dari tembaga. Ganiometer sebagai tempat meletakkan counter tube.
Plug in Module dengan tabung sinar-x berfungsi untuk anoda sinar-x yang akan
memancarkan sinar-x. Counter tube sebagai penerima sinar-x dari kristal. XYt recorder
sebagai perekam dari karakteristik kristal yang diukur. Softwere sinar-x membantu dalam
mempermudah pengukuran. RS232 data kabel sebagai penghubung antara unit sinar-x dan
PC windows. Sedangkan PC windows sendiri untuk tempat pembacaan karakteristik
kristal dan tempat softwere sinar-x berada dimana nantinya akan tampil dalam bentuk
grafik. KBr dan LiF merupakan bahan yang akan dicari karakteristiknya.

        Langkah-langkah yang harus dilakukan dalam percobaan ini adalah diatur alat-alat
eksperimen seperti yang ditunjukan pada gambar (1.1). Setelah semua alat yang digunakan
terpasang dalam unit sinar-x selanjutnya PC dinyalakan, kemudian x-ray basic unit dan
pintu dari x-ray dibuka untuk mengecek posisi ganiometer dan menghubungkan x-ray
basic unit melalui kabel penghubung ke PC windows. Pada PC windows dimulai program
“measure” dan “Gauge” lalu dipilih parameter yang ditunjukan pada gambar 1.1 a ditekan
tombol “continue”. Dipilih kristal yang digunakan ( KBr dan LiF). Langkah selanjutnya
ditutup pintu X-ray dan dimulai pengukuran. Diamati grafik yang ada pada PC dan
dianalisis.

4.2 Analisis Hasil

      Percobaan “characteristic X-rays Of Copper” didapatkan suatu grafik, dimana kita
harus menganalisis grafik tersebut dengan cara menentukan sudut  dari masing-masing
bahan yang digunakan berupa kristal KBr dan kristal LiF. Pada prosesnya elektron akan
mengalami perlambatan ketika masuk kedalam tembaga dan menghasilkan radiasi dengan
panjang gelombangnya kontinue yang dalam dasar teori diatas kita kenal dengan istilah
Bremstharlung. Ketika pengukuran dilakukan maka terdapat suatu grafik yang
menunjukan puncak-puncak sebagai tegangan maksimum. Pada kristal KBr terdapat 6

puncak sebagai penentuan k dan k , sedangkan untuk LiF ada 4 puncak. Puncak tersebut
timbul karena adanya pancaran elektron yang datang dengan sudut  dengan elektron pada
kulit atom yang dalam hal ini adalah atom yang terdapat pada KBr dan LiF. Setelah sudut
 dari masing-masing bahan (KBr dan LiF) sudah ditentukan, selanjutnya menghitung nilai
E dengan menggunakan rumus:

                                                2 d sin  )

Dengan: h = 6,6256.10-34Js

          n = 1,2,3, .........

          c = 2,9979.108 m/s

          d LiF = 2, 014. 10-10 m

          d KBr = 3,290.10-10 m

          Penganalisaan pada KBr terdapat 3 bilangan kuantum (n1 n2 n3), tiap n terdapat

apa yang dinamakan karakteristik k dan k      dengan menggunakan rumus di atas, maka
dapat diketahui nilai E dari masing-masing n adalah 9,063 keV. 9,875 keV. 8,446 keV.
9,451 keV. 8,212 keV dan 9,285 keV. Sedangkan untuk analisator LiF terdapat 2 bilangan

kuantum (n1 dan n2) tiap n terdapat karakteristik k dan k . Nilai E yang dihasilkan tiap n
adalah 8,999 keV. 9,961 keV. 8,417 keV dan 9,383 keV. Jadi, dari kedua analisator dapat

diketahui bahwa nilai E untuk k     lebih besar dibanding nilai E pada k     Nilai-nilai E
tersebut baik pada analisator KBr atau LiF sudah hampir mendekati dengan teori.

          Proses jalanya sinar-x pada praktikum ini adalah sinar-x dari tabung tembaga
melewati suatu celah/filter yang kemudian akan membentuk berkas. Berkas tersebut akan
menumbuk kristal KBr atau LiF yang dapat diputar dengan ganiometer. Sudut θ yag
muncul merupakan sudut antara bidang kristal dan arah datang sinar-x karena pantulan
Bragg. Pada sudut θ tertentu terjadi puncak intensitas. Hal ini dikarenakan terjadi peristiwa
interferensi sinar-x yang lebih dikenal dengan pantulan Bragg. Sedangkan pada grafik

ditunjukan bahwa k lebih muncul pertama kali dibanding k karena salah satu

penyebabnya adalah panjang gelombang        lebih pendek dibanding gelombang .
                                          BAB V

                                        PENUTUP

5.1 Kesimpulan

       Dengan menggunakan persamaan E = (n∙h∙c)/2d sin  kita dapat menentukan nilai
energi sinar – x yang melewati suatu analisator, baik KBr atau LiF. Nilai energi sinar-x
dengan menggunakan analisator LiF diperoleh dari masing-masing n berturut-turut 8,999
keV. 9,961 keV. 8,417 keV dan 9,383 keV. Jika dibandingkan dengan teori, nilai ini sudah
mendekati, dimana pada teori yang ada, nilai energi sinar-x untuk tiap-tiap n berturut-turut
8,009 keV, 8,830 keV, 8,012 keV, dan 8,878 keV.

       Sedangkan nilai energi sinar-x dengan menggunakan analisator KBr diperoleh dari
masing-masing n berturut-turut 9,063 keV. 9,875 keV. 8,446 keV. 9,451 keV. 8,212 keV
dan 9,285 keV. Jika dibandingkan dengan teori, nilai ini sudah mendekati, dimana pada
teori yang ada, nilai energi sinar-x untuk tiap-tiap n berturut-turut 8,059 keV, 8,831 keV,
8,015 keV, dan 8,870 keV, 8,038 keV, dan 8,911 keV.

5.2 Saran

       Dengan melakukan percobaan ini kita dapat menentukan nilai Energi sinar-x yang
melewati suatu bahan, dengan demikian untuk selanjutnya kita dapat menentukan
kuantitas-kuantitas suatu bahan lainnya, sehingga dengan percobaan ini kita dapat
memberikan gambaran-gambaran kuantitas suatu bahan yang kemudian dapat diambil
manfaaatnya dalam penggunaan bahan-bahan yang diuji.

       Untuk mendapatkan hasil yang lebih maksimal lagi diperlukan percobaan-
percobaan berikutnya dengan menggunakan analisator tambahan. Jadi bukan hanya kristal
KBr atau LiF saja yang digunakan. Dengan demikian pengetahuan akan karakteristik suatu
bahan dengan analisa intensitas dan energi sinar-x dapat memperluas hazanah pengetahuan
tentang material yang diuji.
                                  DAFTAR PUSTAKA

Beiser, Arthur. 1987. Konsep Fisika Modern. Jakarta: Erlangga

Halliday, David. 1984. Fisika Jilid 2. Jakarta: Erlangga

Soedojo, Peter. 2001. Asas-asas Ilmu Fisika Jilid 4 Fisika Modern. Yogyakarta: Penerbit
     Andi

Sutrisno. 1979. Seri Fisika Dasar Fisika Modern. Bandung: Penerbit ITB

Wiyatmo, Yusman. 2003. Fisika Modern. Yogyakarta: Pustaka Pelajar

				
DOCUMENT INFO
Shared By:
Categories:
Tags:
Stats:
views:1149
posted:6/10/2011
language:Malay
pages:20